测角仪，用于测量角度的仪器，特别用于晶体研究。Nicolaus Steno在1669年通过切割垂直于边缘的部分来确定石英晶体的界面角，这些部分的平面角是与这些部分垂直的面之间的角度。最早用于测量这些角度的仪器是Arnould Carangeot在1783年设计的接触式测角仪。
接触式测角仪
接触式测角仪由两个金属尺组成，这些金属尺在有刻度的半圆的中心共同旋转。放置仪器时，使其平面垂直于要测量的晶体的两个面之间的边缘，并使规则与这些面接触。在刻度半圆上读取的规则之间的角度将给出两个面之间的角度。规则是有槽的，因此可以缩短规则，将其技巧应用于部分嵌入其矩阵的晶体。所示仪器用于大晶体的近似测量。
反射式测角仪
反射式测角仪是一种精度更高的仪器，可用于具有光滑面的小晶体时精确测量角度。这样的脸可以清晰地反射明亮物体的图像。通过围绕平行于两个面之间的边缘的轴旋转晶体，可以将从第二面反射的图像置于与先前由第一面反射的图像所占据的位置相同的位置。由固定晶体的刻度圆确定的晶体旋转的角度是两个面的法线之间的角度。
根据该原理，已经设计了几种形式的工具。最早的类型包括垂直刻度圈的读取程度和分钟数，它们围绕水平轴转动。通过将刻度圆放置在水平位置可以实现很大的改进。已经构造了多种形式的水平圆角测角计：它们用于望远镜和准直仪，并且在结构上与光谱仪基本相同，还增加了用于将晶体调整和居中于水平圆环上的装置。 。来自任何方便光源的光都穿过准直仪的狭缝，并且在望远镜中可以看到从晶面反射的图像。可以调节晶体支架，以将图像准确地带到望远镜的交叉线上。然后可以旋转圆环，直到来自第二个晶面的图像带到望远镜的交叉线上。旋转角度是两个脸部法线之间的角度。
但是，对于水平圆形测角仪，必须安装和重新调整晶体以测量每个面区域（即，在平行边缘相交的每组面）。此外，在某些情况下，不可能测量区域之间的角度。这些困难已经通过使用两圆测角仪克服了。设置和调整晶体时，突出区域的轴应与水平或垂直圆的轴平行。脸部的位置通过同时读取两个圆来固定。通过向仪器添加另一个刻度圆（其轴垂直于垂直圆的轴）来克服某些缺点，从而形成三圆测角仪。使用这种仪器，可以在任何区域或任何两个面之间进行测量，而无需重新调节晶体。已经设计出了测角仪，用于在母液中生长过程中测量晶体，以及从晶体（宝石）中沿任何所需方向准确地切割断面板和棱镜。装有交叉金属丝和旋转分度台的普通显微镜可以用作测角仪，用于测量晶体面或截面的平面角。
